题名 | The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors |
作者 | |
通讯作者 | Yu, Hongyu; Zhang, Guoqi |
发表日期 | 2020-08-15
|
DOI | |
发表期刊 | |
ISSN | 2379-9153
|
卷号 | 20期号:16页码:8947-8955 |
关键词 | |
相关链接 | [IEEE记录] |
收录类别 | |
语种 | 英语
|
学校署名 | 第一
; 通讯
|
EI入藏号 | 20203209007126
|
EI主题词 | Gallium Nitride
; III-V Semiconductors
; Aluminum Gallium Nitride
; Threshold Voltage
; High Electron Mobility Transistors
; Etching
|
EI分类号 | Precious Metals:547.1
; Electricity: Basic Concepts And Phenomena:701.1
; Semiconducting Materials:712.1
; Semiconductor Devices And Integrated Circuits:714.2
; Chemical Reactions:802.2
; Inorganic Compounds:804.2
|
ESI学科分类 | ENGINEERING
|
来源库 | IEEE
|
全文链接 | https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9063506 |
引用统计 |
被引频次[WOS]:16
|
成果类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/141353 |
专题 | 工学院_深港微电子学院 创新创业学院 |
作者单位 | 1.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Sch Microelect, Shenzhen 518055, Peoples R China 2.Delft Univ Technol, Dept Microelect, NL-2628 CD Delft, Netherlands 3.Fudan Univ, Sch Microelect, State Key Lab ASIC & Syst, Shanghai 200433, Peoples R China 4.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Key Lab Generat Semicond 3, Shenzhen 518055, Peoples R China 5.GaN Device Engn Technol Res Ctr Guangdong, Shenzhen 518055, Peoples R China 6.Shenzhen Inst Widebandgap Semicond, Shenzhen 518100, Peoples R China 7.Minist Educ, Engn Res Ctr Integrated Circuits Next Generat Com, Shenzhen 518055, Peoples R China 8.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Sch Innovat & Entrepreneurship, Shenzhen 518055, Peoples R China |
第一作者单位 | 深港微电子学院 |
通讯作者单位 | 深港微电子学院; 南方科技大学 |
第一作者的第一单位 | 深港微电子学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 |
Sokolovskij, Robert,Zhang, Jian,Zheng, Hongze,et al. The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors[J]. IEEE Sensors Journal,2020,20(16):8947-8955.
|
APA |
Sokolovskij, Robert.,Zhang, Jian.,Zheng, Hongze.,Li, Wenmao.,Jiang, Yang.,...&Zhang, Guoqi.(2020).The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors.IEEE Sensors Journal,20(16),8947-8955.
|
MLA |
Sokolovskij, Robert,et al."The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors".IEEE Sensors Journal 20.16(2020):8947-8955.
|
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | 操作 | |
The Impact of Gate R(8515KB) | -- | -- | 限制开放 | -- |
|
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论