中文版 | English
题名

The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors

作者
通讯作者Yu, Hongyu; Zhang, Guoqi
发表日期
2020-08-15
DOI
发表期刊
ISSN
2379-9153
卷号20期号:16页码:8947-8955
关键词
相关链接[IEEE记录]
收录类别
SCI ; EI
语种
英语
学校署名
第一 ; 通讯
EI入藏号
20203209007126
EI主题词
Gallium Nitride ; III-V Semiconductors ; Aluminum Gallium Nitride ; Threshold Voltage ; High Electron Mobility Transistors ; Etching
EI分类号
Precious Metals:547.1 ; Electricity: Basic Concepts And Phenomena:701.1 ; Semiconducting Materials:712.1 ; Semiconductor Devices And Integrated Circuits:714.2 ; Chemical Reactions:802.2 ; Inorganic Compounds:804.2
ESI学科分类
ENGINEERING
来源库
IEEE
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9063506
引用统计
被引频次[WOS]:16
成果类型期刊论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/141353
专题工学院_深港微电子学院
创新创业学院
作者单位
1.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Sch Microelect, Shenzhen 518055, Peoples R China
2.Delft Univ Technol, Dept Microelect, NL-2628 CD Delft, Netherlands
3.Fudan Univ, Sch Microelect, State Key Lab ASIC & Syst, Shanghai 200433, Peoples R China
4.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Key Lab Generat Semicond 3, Shenzhen 518055, Peoples R China
5.GaN Device Engn Technol Res Ctr Guangdong, Shenzhen 518055, Peoples R China
6.Shenzhen Inst Widebandgap Semicond, Shenzhen 518100, Peoples R China
7.Minist Educ, Engn Res Ctr Integrated Circuits Next Generat Com, Shenzhen 518055, Peoples R China
8.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Sch Innovat & Entrepreneurship, Shenzhen 518055, Peoples R China
第一作者单位深港微电子学院
通讯作者单位深港微电子学院;  南方科技大学
第一作者的第一单位深港微电子学院
推荐引用方式
GB/T 7714
Sokolovskij, Robert,Zhang, Jian,Zheng, Hongze,et al. The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors[J]. IEEE Sensors Journal,2020,20(16):8947-8955.
APA
Sokolovskij, Robert.,Zhang, Jian.,Zheng, Hongze.,Li, Wenmao.,Jiang, Yang.,...&Zhang, Guoqi.(2020).The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors.IEEE Sensors Journal,20(16),8947-8955.
MLA
Sokolovskij, Robert,et al."The Impact of Gate Recess on the H₂ Detection Properties of Pt-AlGaN/GaN HEMT Sensors".IEEE Sensors Journal 20.16(2020):8947-8955.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可 操作
The Impact of Gate R(8515KB)----限制开放--
个性服务
原文链接
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
导出为Excel格式
导出为Csv格式
Altmetrics Score
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[Sokolovskij, Robert]的文章
[Zhang, Jian]的文章
[Zheng, Hongze]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[Sokolovskij, Robert]的文章
[Zhang, Jian]的文章
[Zheng, Hongze]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[Sokolovskij, Robert]的文章
[Zhang, Jian]的文章
[Zheng, Hongze]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
[发表评论/异议/意见]
暂无评论

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。