| 题名 | A Method to Determine Dielectric Model Parameters for Broadband Permittivity Characterization of Thin Film Substrates |
| 作者 | |
| 通讯作者 | Yu, Hongyu |
| 发表日期 | 2021-02
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| DOI | |
| 发表期刊 | |
| ISSN | 1558-187X
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| 卷号 | 63期号:1页码:229-236 |
| 关键词 | |
| 相关链接 | [IEEE记录] |
| 收录类别 | |
| 学校署名 | 第一
; 通讯
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| WOS记录号 | WOS:000619507100025
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| EI入藏号 | 20210809967489
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| EI主题词 | Microstrip lines
; Permittivity
; Polyimides
; Substrates
; Thin films
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| EI分类号 | Organic Polymers:815.1.1
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| ESI学科分类 | ENGINEERING
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| 来源库 | IEEE
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| 全文链接 | https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9091560 |
| 引用统计 |
被引频次[WOS]：4
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| 成果类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/221094 |
| 专题 | 工学院_深港微电子学院 |
| 作者单位 | 1.Southern Univ Sci & Technol, Sch Microelect, Shenzhen 518055, Peoples R China 2.Shenzhen Inst Wide Bandgap Semicond, Shenzhen 518100, Peoples R China 3.Southern Univ Sci & Technol, Key Lab Third Generat Semicond, Shenzhen 518055, Peoples R China 4.Univ British Columbia, Dept Mat Engn, Vancouver, BC V6T 1Z4, Canada |
| 第一作者单位 | 深港微电子学院; 南方科技大学 |
| 通讯作者单位 | 深港微电子学院; 南方科技大学 |
| 第一作者的第一单位 | 深港微电子学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 |
Wang, Liang,Xia, Guangrui,Yu, Hongyu. A Method to Determine Dielectric Model Parameters for Broadband Permittivity Characterization of Thin Film Substrates[J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,2021,63(1):229-236.
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| APA |
Wang, Liang,Xia, Guangrui,&Yu, Hongyu.(2021).A Method to Determine Dielectric Model Parameters for Broadband Permittivity Characterization of Thin Film Substrates.IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility,63(1),229-236.
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| MLA |
Wang, Liang,et al."A Method to Determine Dielectric Model Parameters for Broadband Permittivity Characterization of Thin Film Substrates".IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility 63.1(2021):229-236.
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| 条目包含的文件 | 条目无相关文件。 | |||||
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