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题名

Fully-on-Chip Digitally Assisted LDO Regulator with Improved Regulation and Transient Responses

作者
通讯作者Li, Han
DOI
发表日期
2018
ISSN
21593477
EISSN
2159-3477
ISBN
978-1-5386-7100-9
会议录名称
卷号
2018-July
页码
160-163
会议日期
8-11 July 2018
会议地点
Hong Kong, Hong kong
出版地
345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
出版者
摘要
This paper proposes a fully-on-chip mixed-mode low-dropout (LDO) regulator with regulation and transient response enhanced. A Miller compensation capacitor and a buffer stage are used to achieve stability and improve power MOS gate slew rate. The ultra-fast voltage buffer helps further improve the load transient recovery speed and reduce the chip area due to its wider voltage swing. With the help of the digital regulation part, the supported maximum load current is significantly improved. The proof-of-concept LDO design is fabricated in a standard 0.18-gm CMOS technology. The maximum load current is 150 mA, the output voltage is 1 V and the dropout voltage is 0.2 V. The load regulation is 0.17 mV/mA.
关键词
学校署名
第一 ; 通讯
语种
英语
相关链接[来源记录]
收录类别
资助项目
Shenzhen Science and Technology Innovation Committee (SZSTI)[JCYJ20160530191008447]
WOS研究方向
Computer Science ; Engineering
WOS类目
Computer Science, Hardware & Architecture ; Computer Science, Theory & Methods ; Engineering, Electrical & Electronic
WOS记录号
WOS:000443443500028
EI入藏号
20183505744394
EI主题词
Buffer amplifiers ; Electric current regulators ; VLSI circuits ; Voltage regulators
EI分类号
Amplifiers:713.1 ; Semiconductor Devices and Integrated Circuits:714.2 ; Control Equipment:732.1
来源库
Web of Science
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8429359
引用统计
被引频次[WOS]:1
成果类型会议论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/24599
专题工学院_电子与电气工程系
作者单位
Southern Univ Sci & Technol, Dept Elect & Elect Engn, Shenzhen, Peoples R China
第一作者单位电子与电气工程系
通讯作者单位电子与电气工程系
第一作者的第一单位电子与电气工程系
推荐引用方式
GB/T 7714
Li, Han,Zhan, Chenchang,Zhang, Ning. Fully-on-Chip Digitally Assisted LDO Regulator with Improved Regulation and Transient Responses[C]. 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA:IEEE,2018:160-163.
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