题名 | A 0.4-V Wide Temperature Range All-MOSFET Subthreshold Voltage Reference With 0.027%/V Line Sensitivity |
作者 | |
通讯作者 | Zhan, Chenchang |
发表日期 | 2018-08
|
DOI | |
发表期刊 | |
ISSN | 1558-3791
|
卷号 | 65期号:8页码:969-973 |
关键词 | |
相关链接 | [IEEE记录] |
收录类别 | |
学校署名 | 第一
; 通讯
|
EI入藏号 | 20180704785096
|
EI主题词 | CMOS integrated circuits
; Sensor nodes
; Biomedical equipment
; Energy harvesting
; Temperature
; Voltage measurement
|
EI分类号 | Biomedical Equipment, General:462.1
; Energy Conversion Issues:525.5
; Thermodynamics:641.1
; Electricity: Basic Concepts and Phenomena:701.1
; Semiconductor Devices and Integrated Circuits:714.2
; Radio Systems and Equipment:716.3
; Computer Systems and Equipment:722
; Electric Variables Measurements:942.2
|
来源库 | IEEE
|
全文链接 | https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=8260893 |
引用统计 |
被引频次[WOS]:39
|
成果类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/27412 |
专题 | 工学院_电子与电气工程系 |
作者单位 | 1.Southern Univ Sci & Technol, Dept Elect & Elect Engn, Shenzhen 518055, Peoples R China 2.Nankai Univ, Coll Elect Informat & Opt Engn, Tianjin 300071, Peoples R China |
第一作者单位 | 电子与电气工程系 |
通讯作者单位 | 电子与电气工程系 |
第一作者的第一单位 | 电子与电气工程系 |
推荐引用方式 GB/T 7714 |
Liu, Yang,Zhan, Chenchang,Wang, Lidan,et al. A 0.4-V Wide Temperature Range All-MOSFET Subthreshold Voltage Reference With 0.027%/V Line Sensitivity[J]. IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs,2018,65(8):969-973.
|
APA |
Liu, Yang,Zhan, Chenchang,Wang, Lidan,Tang, Junyao,&Wang, Guanhua.(2018).A 0.4-V Wide Temperature Range All-MOSFET Subthreshold Voltage Reference With 0.027%/V Line Sensitivity.IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs,65(8),969-973.
|
MLA |
Liu, Yang,et al."A 0.4-V Wide Temperature Range All-MOSFET Subthreshold Voltage Reference With 0.027%/V Line Sensitivity".IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 65.8(2018):969-973.
|
条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | 操作 | |
08260893.pdf(1357KB) | -- | -- | 限制开放 | -- |
|
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论