题名 | 利用分光计测量介质薄膜的厚度与折射率 |
作者 | |
发表日期 | 2021
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DOI | |
发表期刊 | |
ISSN | 1007-2934
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卷号 | 34期号:6页码:4-6 |
摘要 | 提出一个在分光计平台上同时测量介质薄膜厚度与折射率的实验方案.改变光线入射角,测量薄膜样品的反射率,利用数值拟合的方法同时得到了薄膜的参数.实验结果与厂家提供的参考值及由椭偏仪测试结果吻合得较好.该实验内容可作为分光计及偏振光的拓展. |
关键词 | |
相关链接 | [万方记录] |
语种 | 中文
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学校署名 | 第一
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资助项目 | (南科大教改项目)%(2020年高年学校教学研究项目)
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来源库 | WanFang
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万方记录号 | perioarticaldxwlsy202106002
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引用统计 |
被引频次[WOS]:0
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成果类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/278326 |
专题 | 理学院_物理系 |
作者单位 | 南方科技大学 物理系,广东 深圳 518055 |
第一作者单位 | 物理系 |
第一作者的第一单位 | 物理系 |
推荐引用方式 GB/T 7714 |
曾孝奇,邵明珍,陈佶,等. 利用分光计测量介质薄膜的厚度与折射率[J]. 大学物理实验,2021,34(6):4-6.
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APA |
曾孝奇,邵明珍,陈佶,&杨珺.(2021).利用分光计测量介质薄膜的厚度与折射率.大学物理实验,34(6),4-6.
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MLA |
曾孝奇,et al."利用分光计测量介质薄膜的厚度与折射率".大学物理实验 34.6(2021):4-6.
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