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题名

Double nanoimprint lithography: A technology for effectively reducing feature size

作者
通讯作者Cui, Dehu
发表日期
2017-11
DOI
发表期刊
ISSN
1071-1023
卷号35期号:6
摘要

Recently, the authors observed ubiquitous polymer chain ordering in polymer micro- and nanostructures patterned by thermal nanoimprint. These polymer materials exhibit chain ordering during melt processing, which indicates that the double nanoimprint technique has been successfully performed. In this work, the authors present the double nanoimprint technique at elevated temperature for reducing the patterning size of thermoplastic functional polymers without the need for excessive imprint pressure, which eventually results in the size decrease in pattern formation. This double nanoimprint technique is a further application of thermal nanoimprint, followed by anisotropy of material properties, such as the refractive index and optical absorption. (C) 2017 American Vacuum Society.

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收录类别
SCI ; EI
语种
英语
学校署名
第一 ; 通讯
资助项目
[JCYJ20160331115147389]
WOS研究方向
Engineering ; Science & Technology - Other Topics ; Physics
WOS类目
Engineering, Electrical & Electronic ; Nanoscience & Nanotechnology ; Physics, Applied
WOS记录号
WOS:000416602700005
出版者
EI入藏号
20174304294489
EI主题词
Light Absorption ; Refractive Index
EI分类号
Light/optics:741.1 ; Nanotechnology:761 ; Solid State Physics:933
ESI学科分类
MATERIALS SCIENCE
来源库
Web of Science
引用统计
被引频次[WOS]:1
成果类型期刊论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/28459
专题工学院_电子与电气工程系
作者单位
Southern Univ Sci & Technol, Dept Elect & Elect Engn, Shenzhen 518055, Peoples R China
第一作者单位电子与电气工程系
通讯作者单位电子与电气工程系
第一作者的第一单位电子与电气工程系
推荐引用方式
GB/T 7714
Ma, Xiaohao,Deng, Dandan,Cui, Dehu. Double nanoimprint lithography: A technology for effectively reducing feature size[J]. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B,2017,35(6).
APA
Ma, Xiaohao,Deng, Dandan,&Cui, Dehu.(2017).Double nanoimprint lithography: A technology for effectively reducing feature size.JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B,35(6).
MLA
Ma, Xiaohao,et al."Double nanoimprint lithography: A technology for effectively reducing feature size".JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 35.6(2017).
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