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题名

A Self-Rectifying AlOy Bipolar RRAM With Sub-50-mu A Set/Reset Current for Cross-Bar Architecture

作者
通讯作者Yu, Hong Yu
发表日期
2012-10
DOI
发表期刊
ISSN
0741-3106
EISSN
1558-0563
卷号33期号:10页码:1402-1404
摘要
In this letter, a bipolar resistive switching RAM based on Ni/AlOy/n(+)-Si which exhibits high potential to realize transistor-free operation for cross-bar array is successfully demonstrated. The proposed device shows well-behaved bipolar memory performance with self-rectifying behavior in low-resistance state (> 700 at 0.2 V), a high on/off resistance ratio (> 10(3)), a good retention characteristic (> 10(4) s at 100 degrees C), and a wide readout margin for cross-bar architecture (number of word line N > 2(5) for worst case condition).
关键词
相关链接[来源记录]
收录类别
SCI ; EI
语种
英语
学校署名
通讯
资助项目
A*STAR[092 151 0086]
WOS研究方向
Engineering
WOS类目
Engineering, Electrical & Electronic
WOS记录号
WOS:000309364600023
出版者
EI入藏号
20124015502356
EI主题词
Memory architecture
EI分类号
Computer Systems and Equipment:722
ESI学科分类
ENGINEERING
来源库
Web of Science
引用统计
被引频次[WOS]:51
成果类型期刊论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/30414
专题南方科技大学
工学院_深港微电子学院
作者单位
1.S Univ Sci & Technol China, Shenzhen 518055, Peoples R China
2.Nanyang Technol Univ, Sch Elect & Elect Engn, Singapore 639798, Singapore
3.Natl Univ Singapore, Dept Elect & Comp Engn, Singapore 117576, Singapore
4.Soitec, F-38926 Crolles, France
通讯作者单位南方科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
Tran, X. A.,Zhu, W.,Liu, W. J.,et al. A Self-Rectifying AlOy Bipolar RRAM With Sub-50-mu A Set/Reset Current for Cross-Bar Architecture[J]. IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS,2012,33(10):1402-1404.
APA
Tran, X. A.,Zhu, W.,Liu, W. J.,Yeo, Y. C.,Nguyen, B. Y.,&Yu, Hong Yu.(2012).A Self-Rectifying AlOy Bipolar RRAM With Sub-50-mu A Set/Reset Current for Cross-Bar Architecture.IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS,33(10),1402-1404.
MLA
Tran, X. A.,et al."A Self-Rectifying AlOy Bipolar RRAM With Sub-50-mu A Set/Reset Current for Cross-Bar Architecture".IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS 33.10(2012):1402-1404.
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