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题名

p-GaN Gate HEMTs With 10.6 V Maximum Gate Drive Voltages by Mg Doping Engineering

作者
通讯作者Xia, Guangrui; Yu, Hongyu
发表日期
2022-05
DOI
发表期刊
ISSN
1557-9646
卷号69期号:5页码:2282-2286
关键词
相关链接[IEEE记录]
收录类别
SCI ; EI
学校署名
第一 ; 通讯
WOS记录号
WOS:000770588000001
EI入藏号
20221211832332
EI主题词
Aluminum gallium nitride ; Failure analysis ; Gallium nitride ; High electron mobility transistors ; Hole concentration ; III-V semiconductors ; Leakage currents ; Magnesium ; Metallorganic chemical vapor deposition ; Organic chemicals ; Organometallics ; Secondary ion mass spectrometry ; Temperature measurement ; Threshold voltage
EI分类号
Magnesium and Alloys:542.2 ; Alkaline Earth Metals:549.2 ; Electricity: Basic Concepts and Phenomena:701.1 ; Semiconducting Materials:712.1 ; Semiconductor Devices and Integrated Circuits:714.2 ; Chemical Reactions:802.2 ; Organic Compounds:804.1 ; Inorganic Compounds:804.2 ; Temperature Measurements:944.6
ESI学科分类
ENGINEERING
来源库
IEEE
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9737317
引用统计
被引频次[WOS]:15
成果类型期刊论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/313165
专题工学院_深港微电子学院
作者单位
1.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Sch Microelect, Shenzhen 518055, Guangdong, Peoples R China
2.Univ British Columbia UBC, Dept Mat Engn, Vancouver, BC V6T 1Z4, Canada
3.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, Engn Res Ctr Integrated Circuits Next Generat Com, Shenzhen Inst Wide Bandgap Semicond, Minist Educ,Sch Microelect, Shenzhen 518055, Guangdong, Peoples R China
4.Southern Univ Sci & Technol SUSTech, GaN Device Engn Technol Res Ctr Guangdong, Shenzhen 518055, Guangdong, Peoples R China
5.Enkris Semicond Inc, Suzhou 215123, Peoples R China
第一作者单位深港微电子学院
通讯作者单位深港微电子学院;  南方科技大学
第一作者的第一单位深港微电子学院
推荐引用方式
GB/T 7714
Zhou, Guangnan,Zeng, Fanming,Gao, Rongyu,et al. p-GaN Gate HEMTs With 10.6 V Maximum Gate Drive Voltages by Mg Doping Engineering[J]. IEEE Transactions on Electron Devices,2022,69(5):2282-2286.
APA
Zhou, Guangnan.,Zeng, Fanming.,Gao, Rongyu.,Wang, Qing.,Cheng, Kai.,...&Yu, Hongyu.(2022).p-GaN Gate HEMTs With 10.6 V Maximum Gate Drive Voltages by Mg Doping Engineering.IEEE Transactions on Electron Devices,69(5),2282-2286.
MLA
Zhou, Guangnan,et al."p-GaN Gate HEMTs With 10.6 V Maximum Gate Drive Voltages by Mg Doping Engineering".IEEE Transactions on Electron Devices 69.5(2022):2282-2286.
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p-GaN_Gate_HEMTs_Wit(3084KB)----限制开放--
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