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题名

Er Doped Fiber Mach-Zehnder Interferometer Based on Up-Taper Structure in Fiber Ring Laser System

作者
DOI
发表日期
2021
会议名称
Optoelectronics Global Conference (OGC)
ISBN
978-1-6654-3195-8
会议录名称
页码
169-171
会议日期
15-18 Sept. 2021
会议地点
Shenzhen, China
出版地
345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
出版者
摘要
In this paper, an erbium-doped fiber with an upper cone fiber structure which can realize the interference between the cladding mode and the core mode is presented for temperature sensing in fiber ring laser (FRL). Based on this structure, an efficient and inexpensive Mach Zehnder interferometer (MZI) was designed. High signal-to-noise ratio (≈45dB) is realized, and 3dB bandwidth is less than 0.15nm. In addition, compared with MZIS based on misplaced or taper fiber, it has good optical stability. The FRL sensor has a temperature sensitivity of 301 pm/°C. This kind of MZI has great development value in bridge detection and life and health.
关键词
学校署名
第一
语种
英语
相关链接[Scopus记录]
收录类别
WOS研究方向
Engineering ; Optics ; Imaging Science & Photographic Technology
WOS类目
Engineering, Electrical & Electronic ; Optics ; Imaging Science & Photographic Technology
WOS记录号
WOS:000838025000043
EI入藏号
20220711638904
EI主题词
Erbium ; Fibers ; Photonics ; Ring lasers ; Signal to noise ratio ; Temperature sensors
EI分类号
Rare Earth Metals:547.2 ; Information Theory and Signal Processing:716.1 ; Light/Optics:741.1 ; Optical Devices and Systems:741.3 ; Lasers:744 ; Optical Instruments:941.3 ; Temperature Measuring Instruments:944.5
Scopus记录号
2-s2.0-85124546364
来源库
Scopus
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9654420
引用统计
被引频次[WOS]:0
成果类型会议论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/328112
专题工学院_电子与电气工程系
作者单位
Southern University of Science and Technology,Department of Electrical and Electronic Engineering,Shenzhen,China
第一作者单位电子与电气工程系
第一作者的第一单位电子与电气工程系
推荐引用方式
GB/T 7714
Lin,Weihao,Shao,Liyang,Liu,Yibin,et al. Er Doped Fiber Mach-Zehnder Interferometer Based on Up-Taper Structure in Fiber Ring Laser System[C]. 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA:IEEE,2021:169-171.
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