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题名

基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备

发明人
第一发明人
吴明洋
申请人
南方科技大学
第一申请人
南方科技大学
第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区学苑大道1088号南方科技大学
当前申请人
南方科技大学
当前申请人地址
518055 广东省深圳市南山区学苑大道1088号南方科技大学 (广东,深圳,南山区)
当前第一申请人
南方科技大学
当前第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区学苑大道1088号南方科技大学 (广东,深圳,南山区)
申请号
CN202110423106.2
申请日期
2021-04-20
公开(公告)号
CN113268856B
公开日期
2022-05-20
授权日期
2022-05-20
专利状态
授权
法律状态日期
2022-05-20
专利类型
授权发明
学校署名
第一
摘要

本发明公开了基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备,其中,方法包括步骤:获取待处理裂纹图像中裂纹点的坐标,记为F;将所有裂纹点之间的裂纹线段归纳为若干个成长方向向量,其组成的集合记为D;确定裂纹起点、裂纹终点、及其宏观成长向量,分别记为f1、fn、VLmacro,统计获得各个成长方向向量的概率集合,记为P,此时,一条弯曲裂纹可采用上述参数进行表征;根据需要设定成长步长tmax、裂纹起点f1、宏观成长向量VLmacro、成长方向向量集合D及其对应的概率集合P参数;通过重构算法生成一条裂纹或多条裂纹。本发明提供了一种新的弯曲裂纹及其网络的表征和重构方法,解决了弯曲裂纹的表征和重构问题,以及由多条弯曲裂纹组成的裂纹网络的重构问题。;本发明公开了基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备,其中,方法包括步骤:获取待处理裂纹图像中裂纹点的坐标,记为F;将所有裂纹点之间的裂纹线段归纳为若干个成长方向向量,其组成的集合记为D;确定裂纹起点、裂纹终点、及其宏观成长向量,分别记为f1、fn、VLmacro,统计获得各个成长方向向量的概率集合,记为P,此时,一条弯曲裂纹可采用上述参数进行表征;根据需要设定成长步长tmax、裂纹起点f1、宏观成长向量VLmacro、成长方向向量集合D及其对应的概率集合P参数;通过重构算法生成一条裂纹或多条裂纹。本发明提供了一种新的弯曲裂纹及其网络的表征和重构方法,解决了弯曲裂纹的表征和重构问题,以及由多条弯曲裂纹组成的裂纹网络的重构问题。;本发明公开了基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备,其中,方法包括步骤:获取待处理裂纹图像中裂纹点的坐标,记为F;将所有裂纹点之间的裂纹线段归纳为若干个成长方向向量,其组成的集合记为D;确定裂纹起点、裂纹终点、及其宏观成长向量,分别记为f1、fn、VLmacro,统计获得各个成长方向向量的概率集合,记为P,此时,一条弯曲裂纹可采用上述参数进行表征;根据需要设定成长步长tmax、裂纹起点f1、宏观成长向量VLmacro、成长方向向量集合D及其对应的概率集合P参数;通过重构算法生成一条裂纹或多条裂纹。本发明提供了一种新的弯曲裂纹及其网络的表征和重构方法,解决了弯曲裂纹的表征和重构问题,以及由多条弯曲裂纹组成的裂纹网络的重构问题。

其他摘要

本发明公开了基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备,其中,方法包括步骤:获取待处理裂纹图像中裂纹点的坐标,记为F;将所有裂纹点之间的裂纹线段归纳为若干个成长方向向量,其组成的集合记为D;确定裂纹起点、裂纹终点、及其宏观成长向量,分别记为f1、fn、VLmacro,统计获得各个成长方向向量的概率集合,记为P,此时,一条弯曲裂纹可采用上述参数进行表征;根据需要设定成长步长tmax、裂纹起点f1、宏观成长向量VLmacro、成长方向向量集合D及其对应的概率集合P参数;通过重构算法生成一条裂纹或多条裂纹。本发明提供了一种新的弯曲裂纹及其网络的表征和重构方法,解决了弯曲裂纹的表征和重构问题,以及由多条弯曲裂纹组成的裂纹网络的重构问题。

CPC分类号
G06F30/20 ; G06T17/00 ; G06T19/20 ; G06T5/30 ; G06F2111/08 ; G06F2111/10
IPC 分类号
G06F30/20 ; G06T5/30 ; G06T17/00 ; G06T19/20 ; G06F111/08 ; G06F111/10
语种
中文
INPADOC 法律状态
(+PATENT GRANT)[2022-05-20][CN]
INPADOC 同族专利数量
1
扩展同族专利数量
1
专利代理人
徐凯凯
代理机构
深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙)
相关链接[来源记录]
来源库
PatSnap
成果类型专利
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/338895
专题理学院_地球与空间科学系
推荐引用方式
GB/T 7714
吴明洋,宋真龙,李铭辉,等. 基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备[P]. 2022-05-20.
条目包含的文件
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1基于概率的裂纹表征与重构方法.pdf(1337KB)----限制开放--
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