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题名

Air Stable High Mobility ALD ZnO TFT With HfO2 Passivation Layer Suitable For CMOS-BEOL Integration

作者
通讯作者M. Shen; Y. Li
发表日期
2022-06
会议名称
2022 IEEE CSTIC
会议日期
2022-3
会议地点
Shanghai, China
学校署名
第一 ; 通讯
来源库
人工提交
成果类型会议论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/415849
专题南方科技大学
工学院_深港微电子学院
作者单位
1.Southern University of Science and Technology, Shenzhen 518055, China
2.Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China
第一作者单位南方科技大学
通讯作者单位南方科技大学
第一作者的第一单位南方科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
W. Wang,J. Lu,J. Lan,et al. Air Stable High Mobility ALD ZnO TFT With HfO2 Passivation Layer Suitable For CMOS-BEOL Integration[C],2022.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可 操作
Air_Stable_High_Mobi(3158KB)----限制开放--
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