题名 | 基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置 |
发明人 | |
第一发明人 | 马晓旻
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申请人 | 南方科技大学
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第一申请人 | 南方科技大学
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第一申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号
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当前申请人 | 南方科技大学
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当前申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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当前第一申请人 | 南方科技大学
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当前第一申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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申请号 | CN202210889629.0
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申请日期 | 2022-07-27
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公开(公告)号 | CN115086563B
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公开日期 | 2022-11-15
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授权日期 | 2022-11-15
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专利状态 | 授权
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法律状态日期 | 2022-11-15
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专利类型 | 授权发明
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学校署名 | 第一
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摘要 | 本申请涉及一种基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置。方法包括:当SerialEM进入观察模式时,获取样品台中样品的第一离焦量,根据第一离焦量和粗校离焦量对样品台的高度进行初步校正;对校正后的样品台中的样品进行拍摄,得到样品孔洞图像;将样品孔洞图像和孔洞参考图像进行比对,得到图像比对信息,并根据图像比对信息和预设的补偿信息对样品进行补偿移动;当SerialEM进入聚焦模式时,获取样品的第二离焦量,根据第二离焦量和精校离焦量对样品台进行精调;根据精调后样品台所处的位置和拍摄倍数对样品进行拍摄,得到方格图像;根据方格图像进行选点、单颗粒数据收集。采用本方法能够提高单颗粒数据收集有效率。 |
其他摘要 | 本申请涉及一种基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置。方法包括:当SerialEM进入观察模式时,获取样品台中样品的第一离焦量,根据第一离焦量和粗校离焦量对样品台的高度进行初步校正;对校正后的样品台中的样品进行拍摄,得到样品孔洞图像;将样品孔洞图像和孔洞参考图像进行比对,得到图像比对信息,并根据图像比对信息和预设的补偿信息对样品进行补偿移动;当SerialEM进入聚焦模式时,获取样品的第二离焦量,根据第二离焦量和精校离焦量对样品台进行精调;根据精调后样品台所处的位置和拍摄倍数对样品进行拍摄,得到方格图像;根据方格图像进行选点、单颗粒数据收集。采用本方法能够提高单颗粒数据收集有效率。 |
CPC分类号 | G02B21/361
; G06V20/698
; G06T7/70
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IPC 分类号 | H04N5/232
; G02B21/36
; G06V20/69
; G06T7/70
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语种 | 中文
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INPADOC 法律状态 | (+PATENT GRANT)[2022-11-15][CN]
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INPADOC 同族专利数量 | 1
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扩展同族专利数量 | 1
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优先权日 | 2022-07-27
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专利代理人 | 唐彩琴
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代理机构 | 华进联合专利商标代理有限公司
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相关链接 | [来源记录] |
来源库 | PatSnap
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成果类型 | 专利 |
条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/428092 |
专题 | 南方科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 |
马晓旻,王培毅,高远瞩,等. 基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置[P]. 2022-11-15.
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条目包含的文件 | ||||||
文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | 操作 | |
7-PSU682022003CN1发明专(977KB) | -- | -- | 限制开放 | -- |
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