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题名

基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置

发明人
第一发明人
马晓旻
申请人
南方科技大学
第一申请人
南方科技大学
第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号
当前申请人
南方科技大学
当前申请人地址
518055 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
当前第一申请人
南方科技大学
当前第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
申请号
CN202210889629.0
申请日期
2022-07-27
公开(公告)号
CN115086563B
公开日期
2022-11-15
授权日期
2022-11-15
专利状态
授权
法律状态日期
2022-11-15
专利类型
授权发明
学校署名
第一
摘要

本申请涉及一种基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置。方法包括:当SerialEM进入观察模式时,获取样品台中样品的第一离焦量,根据第一离焦量和粗校离焦量对样品台的高度进行初步校正;对校正后的样品台中的样品进行拍摄,得到样品孔洞图像;将样品孔洞图像和孔洞参考图像进行比对,得到图像比对信息,并根据图像比对信息和预设的补偿信息对样品进行补偿移动;当SerialEM进入聚焦模式时,获取样品的第二离焦量,根据第二离焦量和精校离焦量对样品台进行精调;根据精调后样品台所处的位置和拍摄倍数对样品进行拍摄,得到方格图像;根据方格图像进行选点、单颗粒数据收集。采用本方法能够提高单颗粒数据收集有效率。

其他摘要

本申请涉及一种基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置。方法包括:当SerialEM进入观察模式时,获取样品台中样品的第一离焦量,根据第一离焦量和粗校离焦量对样品台的高度进行初步校正;对校正后的样品台中的样品进行拍摄,得到样品孔洞图像;将样品孔洞图像和孔洞参考图像进行比对,得到图像比对信息,并根据图像比对信息和预设的补偿信息对样品进行补偿移动;当SerialEM进入聚焦模式时,获取样品的第二离焦量,根据第二离焦量和精校离焦量对样品台进行精调;根据精调后样品台所处的位置和拍摄倍数对样品进行拍摄,得到方格图像;根据方格图像进行选点、单颗粒数据收集。采用本方法能够提高单颗粒数据收集有效率。

CPC分类号
G02B21/361 ; G06V20/698 ; G06T7/70
IPC 分类号
H04N5/232 ; G02B21/36 ; G06V20/69 ; G06T7/70
语种
中文
INPADOC 法律状态
(+PATENT GRANT)[2022-11-15][CN]
INPADOC 同族专利数量
1
扩展同族专利数量
1
优先权日
2022-07-27
专利代理人
唐彩琴
代理机构
华进联合专利商标代理有限公司
相关链接[来源记录]
来源库
PatSnap
成果类型专利
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/428092
专题南方科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
马晓旻,王培毅,高远瞩,等. 基于SerialEM的单颗粒数据收集方法和装置[P]. 2022-11-15.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可 操作
7-PSU682022003CN1发明专(977KB)----限制开放--
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