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题名

Selective Discrimination of Ppb-level Vocs Using Mos Gas Sensor in Pulse-Heating Mode with the Modified Hill's Model

作者
DOI
发表日期
2023
会议名称
36th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS)
ISSN
1084-6999
ISBN
978-1-6654-9309-3
会议录名称
卷号
2023-January
页码
826-829
会议日期
15-19 Jan. 2023
会议地点
Munich, Germany
出版地
345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA
出版者
摘要
This paper realizes the selective discrimination of ppb-level volatile organic compounds (VOCs) through a transient feature extraction method. The transient resistance of the micro-electromechanical systems (MEMS) based SnO2 sensor in ethanol at various temperature were investigated in pulse-heating mode. Furthermore, we proposed the modified Hill's model to describe the transient resistance of the sensor when the pulse is on, and the experimental data was well fitted by the function of the modified Hill's model. Additionally, various VOCs gases with 500 ppb concentrations were distinguished with the principal component analysis (PCA).
关键词
学校署名
第一
语种
英语
相关链接[IEEE记录]
收录类别
资助项目
National Key R&D Program of China["2020YFB2008604","K21799109","K21799110"]
WOS研究方向
Engineering ; Science & Technology - Other Topics
WOS类目
Engineering, Electrical & Electronic ; Engineering, Mechanical ; Nanoscience & Nanotechnology
WOS记录号
WOS:000975359200216
EI入藏号
20231113731840
EI主题词
Gas detectors ; MEMS ; Principal component analysis
EI分类号
Electric Equipment:704.2 ; Organic Compounds:804.1 ; Accidents and Accident Prevention:914.1 ; Mathematical Statistics:922.2 ; Special Purpose Instruments:943.3
来源库
IEEE
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=10052356
引用统计
被引频次[WOS]:1
成果类型会议论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/502075
专题工学院_深港微电子学院
作者单位
School of Microelectronics, Southern University of Science and Technology, Shenzhen, China
第一作者单位深港微电子学院
第一作者的第一单位深港微电子学院
推荐引用方式
GB/T 7714
Gaoqiang Niu,Yi Zhuang,Yushen Hu,et al. Selective Discrimination of Ppb-level Vocs Using Mos Gas Sensor in Pulse-Heating Mode with the Modified Hill's Model[C]. 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA:IEEE,2023:826-829.
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