| 题名 | 一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统 |
| 发明人 | |
| 第一发明人 | 程庆沙
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| 申请人 | 南方科技大学
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| 第一申请人 | 南方科技大学
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| 第一申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1088号
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| 当前申请人 | 南方科技大学
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| 当前申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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| 当前第一申请人 | 南方科技大学
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| 当前第一申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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| 申请号 | CN201810358393.1
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| 申请日期 | 2018-04-20
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| 公开(公告)号 | CN110059326B
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| 公开日期 | 2023-05-05
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| 授权日期 | 2023-05-05
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| 专利状态 | 授权
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| 法律状态日期 | 2023-05-05
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| 专利类型 | 授权发明
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| 学校署名 | 第一
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| 摘要 | 本发明适用于微波器件调试技术领域，提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得不用再利用微波器件实物进行调试学习，所以能够大大的降低学习成本。 |
| 其他摘要 | 本发明适用于微波器件调试技术领域，提供了一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统，包括：根据待调试的微波器件和所述待调试的微波器件的第一调试指标，获取与所述第一调试指标对应的响应函数；获取基于所述响应函数确定的响应参数的值；基于所述第一调试指标和所述响应参数的值确定的第二调试指标，结束所述待调试的微波器件的调试。所述方法由于能为不同的微波器件提供不同的响应函数，以进行对不同微波器件调试的仿真，使得不用再利用微波器件实物进行调试学习，所以能够大大的降低学习成本。 |
| CPC分类号 | G06F30/30
; G06F30/17
; G06F2117/08
; G06F30/20
|
| IPC 分类号 | G06F30/367
; G06F30/373
; G06F117/08
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| INPADOC 法律状态 | （+PATENT GRANT）[2023-05-05][CN]
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| INPADOC 同族专利数量 | 1
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| 扩展同族专利数量 | 1
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| 优先权日 | 2018-04-20
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| 专利代理人 | 李艳丽
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| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司
|
| 相关链接 | [来源记录] |
| 来源库 | PatSnap
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| 成果类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/537952 |
| 专题 | 南方科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 |
程庆沙,宋怡然,刘莹,等. 一种用于调试微波器件的仿真方法和仿真系统[P]. 2023-05-05.
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| 条目包含的文件 | 条目无相关文件。 | |||||
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