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题名

产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

发明人
第一发明人
贡毅
申请人
南方科技大学
第一申请人
南方科技大学
第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号
当前申请人
南方科技大学
当前申请人地址
518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
当前第一申请人
南方科技大学
当前第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
申请号
CN202010102720.4
申请日期
2020-02-19
公开(公告)号
CN111325728B
公开日期
2023-05-30
授权日期
2023-05-30
专利状态
授权
法律状态日期
2023-05-30
专利类型
授权发明
学校署名
第一
摘要
本发明公开了一种产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及自动检测技术领域,其中,一种产品缺陷检测方法包括:获取待检测产品图像;采用大律算法对待检测产品图像进行处理,得到第一图像分割结果;采用高斯混合模型算法对待检测产品图像进行处理,得到第二图像分割结果;采用后处理算法对第一图像分割结果和第二图像分割结果进行处理,得到检测结果。本发明能够大幅度地提高检测速度,适用于不同类型产品的表面缺陷检测,还能够减小不同光源、检测件摆放角度和阴影情况等外界因素对检测结果的影响,实现对生产线产品缺陷的准确检测。
其他摘要
本发明公开了一种产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及自动检测技术领域,其中,一种产品缺陷检测方法包括:获取待检测产品图像;采用大律算法对待检测产品图像进行处理,得到第一图像分割结果;采用高斯混合模型算法对待检测产品图像进行处理,得到第二图像分割结果;采用后处理算法对第一图像分割结果和第二图像分割结果进行处理,得到检测结果。本发明能够大幅度地提高检测速度,适用于不同类型产品的表面缺陷检测,还能够减小不同光源、检测件摆放角度和阴影情况等外界因素对检测结果的影响,实现对生产线产品缺陷的准确检测。
CPC分类号
G06T7/0006 ; G06T7/11 ; G06T7/13 ; G06T7/155 ; G06T2207/10004
IPC 分类号
G06T7/00 ; G06T7/11 ; G06T7/13 ; G06T7/155
INPADOC 法律状态
(ENTRY INTO FORCE OF REQUEST FOR SUBSTANTIVE EXAMINATION)[2020-07-17][CN]
INPADOC 同族专利数量
1
扩展同族专利数量
1
优先权日
2020-02-19
专利代理人
洪铭福
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司
相关链接[来源记录]
来源库
PatSnap
成果类型专利
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/538583
专题南方科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
贡毅,刘真榕. 产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质[P]. 2023-05-30.
条目包含的文件
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