题名 | 产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 |
发明人 | |
第一发明人 | 贡毅
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申请人 | 南方科技大学
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第一申请人 | 南方科技大学
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第一申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号
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当前申请人 | 南方科技大学
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当前申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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当前第一申请人 | 南方科技大学
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当前第一申请人地址 | 518055 广东省深圳市南山区西丽学苑大道1088号 (广东,深圳,南山区)
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申请号 | CN202010102720.4
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申请日期 | 2020-02-19
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公开(公告)号 | CN111325728B
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公开日期 | 2023-05-30
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授权日期 | 2023-05-30
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专利状态 | 授权
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法律状态日期 | 2023-05-30
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专利类型 | 授权发明
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学校署名 | 第一
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摘要 | 本发明公开了一种产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及自动检测技术领域,其中,一种产品缺陷检测方法包括:获取待检测产品图像;采用大律算法对待检测产品图像进行处理,得到第一图像分割结果;采用高斯混合模型算法对待检测产品图像进行处理,得到第二图像分割结果;采用后处理算法对第一图像分割结果和第二图像分割结果进行处理,得到检测结果。本发明能够大幅度地提高检测速度,适用于不同类型产品的表面缺陷检测,还能够减小不同光源、检测件摆放角度和阴影情况等外界因素对检测结果的影响,实现对生产线产品缺陷的准确检测。 |
其他摘要 | 本发明公开了一种产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,涉及自动检测技术领域,其中,一种产品缺陷检测方法包括:获取待检测产品图像;采用大律算法对待检测产品图像进行处理,得到第一图像分割结果;采用高斯混合模型算法对待检测产品图像进行处理,得到第二图像分割结果;采用后处理算法对第一图像分割结果和第二图像分割结果进行处理,得到检测结果。本发明能够大幅度地提高检测速度,适用于不同类型产品的表面缺陷检测,还能够减小不同光源、检测件摆放角度和阴影情况等外界因素对检测结果的影响,实现对生产线产品缺陷的准确检测。 |
CPC分类号 | G06T7/0006
; G06T7/11
; G06T7/13
; G06T7/155
; G06T2207/10004
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IPC 分类号 | G06T7/00
; G06T7/11
; G06T7/13
; G06T7/155
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INPADOC 法律状态 | (ENTRY INTO FORCE OF REQUEST FOR SUBSTANTIVE EXAMINATION)[2020-07-17][CN]
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INPADOC 同族专利数量 | 1
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扩展同族专利数量 | 1
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优先权日 | 2020-02-19
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专利代理人 | 洪铭福
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代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司
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相关链接 | [来源记录] |
来源库 | PatSnap
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成果类型 | 专利 |
条目标识符 | http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/538583 |
专题 | 南方科技大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 |
贡毅,刘真榕. 产品缺陷检测方法、装置、设备及存储介质[P]. 2023-05-30.
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条目包含的文件 | 条目无相关文件。 |
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