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题名

一种氮化水平异质p-n结结构器件及其制备方法

发明人
第一发明人
方志来
申请人
深圳第三代半导体研究院
第一申请人
深圳第三代半导体研究院
第一申请人地址
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1088号台州楼
当前申请人
纳微朗科技(深圳)有限公司
当前申请人地址
518109 广东省深圳市龙华区观澜街道库坑社区库坑观光路1310号厂房1栋409 (广东,深圳,龙华区)
当前第一申请人
纳微朗科技(深圳)有限公司
当前第一申请人地址
518109 广东省深圳市龙华区观澜街道库坑社区库坑观光路1310号厂房1栋409 (广东,深圳,龙华区)
申请号
CN202010133714.5
申请日期
2020-02-28
公开(公告)号
CN111415977B
公开日期
2022-02-15
授权日期
2022-02-15
专利状态
授权 ; 权利转移
法律状态日期
2022-02-15
专利类型
授权发明
学校署名
非南科大
摘要
本发明公开了一种氮化水平异质p‑n结结构器件及其制备方法,属于半导体器件领域,所述氮化水平异质p‑n结结构器件包括:衬底、p型材料层、嵌入所述p型材料层内部的n型材料层、以及p型材料层和n型材料层上表面上的金属电极。其中,通过在p型材料层上覆盖有特定图案的掩膜层,实现n型材料层的选择性生长,生长结束后可获得水平方向的异质p‑n结结构。该发明工艺简单,有望扩展诸如氧化镓、氧化铟等氧化物半导体材料的应用。
其他摘要
本发明公开了一种氮化水平异质p‑n结结构器件及其制备方法,属于半导体器件领域,所述氮化水平异质p‑n结结构器件包括:衬底、p型材料层、嵌入所述p型材料层内部的n型材料层、以及p型材料层和n型材料层上表面上的金属电极。其中,通过在p型材料层上覆盖有特定图案的掩膜层,实现n型材料层的选择性生长,生长结束后可获得水平方向的异质p‑n结结构。该发明工艺简单,有望扩展诸如氧化镓、氧化铟等氧化物半导体材料的应用。
CPC分类号
H01L29/78 ; H01L29/0684 ; H01L29/66446 ; H01L21/0254 ; H01L21/02636
IPC 分类号
H01L29/06 ; H01L29/78 ; H01L21/336 ; H01L21/02
INPADOC 法律状态
(TRANSFER OF PATENT RIGHT)[2023-04-25][CN]
INPADOC 同族专利数量
1
扩展同族专利数量
1
优先权日
2020-02-28
专利代理人
彭随丽
代理机构
北京华创智道知识产权代理事务所(普通合伙)
相关链接[来源记录]
来源库
PatSnap
成果类型专利
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/539126
专题南方科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
方志来,闫春辉,蒋卓汛,等. 一种氮化水平异质p-n结结构器件及其制备方法[P]. 2022-02-15.
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