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题名

Electroluminescence and Gate Carrier Dynamics in a Schottky-type p-GaN Gate Double-Channel GaN HEMT

作者
发表日期
2023
DOI
发表期刊
ISSN
1558-0563
卷号PP期号:99页码:1-1
关键词
相关链接[IEEE记录]
收录类别
SCI ; EI
学校署名
其他
WOS记录号
WOS:001080705500001
EI入藏号
20233214504611
EI主题词
Aluminum nitride ; Buffer layers ; Dynamics ; Electroluminescence ; Gallium nitride ; High electron mobility transistors ; Logic gates ; Temperature distribution ; Temperature measurement
EI分类号
Thermodynamics:641.1 ; Electricity: Basic Concepts and Phenomena:701.1 ; Semiconducting Materials:712.1 ; Semiconductor Devices and Integrated Circuits:714.2 ; Logic Elements:721.2 ; Light, Optics and Optical Devices:741 ; Organic Compounds:804.1 ; Inorganic Compounds:804.2 ; Crystalline Solids:933.1 ; Temperature Measurements:944.6
ESI学科分类
ENGINEERING
来源库
IEEE
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=10208223
引用统计
被引频次[WOS]:5
成果类型期刊论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/553336
专题工学院_电子与电气工程系
作者单位
1.HKUST Shenzhen Research Institute, Shenzhen, China
2.Department of Electronic and Computer Engineering, The Hong Kong University of Science and Technology, Hong Kong, China
3.Department of Electrical and Electronic Engineering, Southern University of Science and Technology, Shenzhen, China
推荐引用方式
GB/T 7714
Sirui Feng,Hang Liao,Tao Chen,et al. Electroluminescence and Gate Carrier Dynamics in a Schottky-type p-GaN Gate Double-Channel GaN HEMT[J]. IEEE Electron Device Letters,2023,PP(99):1-1.
APA
Sirui Feng.,Hang Liao.,Tao Chen.,Junting Chen.,Yan Cheng.,...&Kevin J. Chen.(2023).Electroluminescence and Gate Carrier Dynamics in a Schottky-type p-GaN Gate Double-Channel GaN HEMT.IEEE Electron Device Letters,PP(99),1-1.
MLA
Sirui Feng,et al."Electroluminescence and Gate Carrier Dynamics in a Schottky-type p-GaN Gate Double-Channel GaN HEMT".IEEE Electron Device Letters PP.99(2023):1-1.
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