南方科技大学知识苑(SUSTech KC): 基于STEM-EELS方法在纳米尺度上测量表面声子强度

题名	基于STEM-EELS方法在纳米尺度上测量表面声子强度
其他题名	Nanoscale measurement of surface phonon via STEM-EELS
作者	刘秉尧 ; 李宁 ; 孙元伟 ; 李跃辉 ; 高鹏 ; 俞大鹏
发表日期	2018-10-15
DOI	10.3969/j.issn.1000-6281.2018.05.012
发表期刊	电子显微学报影响因子和分区
ISSN	1000-6281
卷号	37 期号:5页码:474-480
摘要	单色仪和球差校正器的装备使得透射电子显微镜同时具备高空间和高能量分辨率。基于扫描透射电子显微镜-电子能量损失谱(STEM-EELS)方法可以实现在纳米尺度上测量材料的声子结构,这为研究表界面和缺陷的声子行为及其与微观结构之间的关系提供了强有力的手段。本文测量了六方氮化硼(h-BN)纳米片体内、表面、表面附近真空中声子信号的强度,利用多种拟合方法探究了其衰减行为并做出理论解释。对比了各种拟合方法的优缺点,讨论了它们的适用范围,提出了一套简单的经验公式来拟合真空中信号强度的衰减行为,并与其他拟合方法对比。
关键词	单色仪 Stem-eels 六方氮化硼声子定量分析
学科领域	一般工业技术
相关链接	[CNKI记录]
收录类别	CSCD
语种	中文
学校署名	其他
资助项目	国家自然科学基金重点研发项目(. 2016YFA0300804,2016YFA0300903)%国家自然科学基金资助项目(. 51502007, 51672007)
CSCD记录号	CSCD:6349816
来源库	CNKI
万方记录号	dzxwxb201805013
引用统计	被引频次[WOS]：0 被引频次：1[CSCD] [CSCD记录]
成果类型	期刊论文
条目标识符	http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/55704
专题	理学院_物理系
作者单位	1.北京大学电子显微镜实验室 2.北京大学前沿交叉学科研究院 3.北京大学物理学院量子材料研究中心 4.量子物质科学协同创新中心 5.南方科技大学物理系
推荐引用方式 GB/T 7714	刘秉尧,李宁,孙元伟,等. 基于STEM-EELS方法在纳米尺度上测量表面声子强度[J]. 电子显微学报,2018,37(5):474-480.
APA	刘秉尧,李宁,孙元伟,李跃辉,高鹏,&俞大鹏.(2018).基于STEM-EELS方法在纳米尺度上测量表面声子强度.电子显微学报,37(5),474-480.
MLA	刘秉尧,et al."基于STEM-EELS方法在纳米尺度上测量表面声子强度".电子显微学报 37.5(2018):474-480.

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