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题名

Focusing Intracranial Aneurysm Lesion Segmentation by Graph Mask2Former with Local Refinement in DSA Images

作者
通讯作者Liu, Jiang
DOI
发表日期
2023
会议名称
2023 IEEE International Conference on Bioinformatics and Biomedicine, BIBM 2023
ISSN
2156-1125
ISBN
9798350337488
会议录名称
页码
899-903
会议日期
December 5, 2023 - December 8, 2023
会议地点
Istanbul, Turkey
会议录编者/会议主办者
NSF
出版者
摘要
Intracranial Aneurysm (IA) lesion segmentation is significant for IA treatment, which is one of the high death rate and deformity cerebrovascular diseases. Segmenting the IA lesions accurately is still challenging in digital subtraction angiography (DSA) images due to blurred boundaries, imaging noise, and intracranial vascular morphologies. In this paper, we are the first time to propose a novel instance segmentation network architecture, Graph Mask2Former, to segment IA lesions automatically based on DSA images. Specifically, we apply a graph convolution module to reassign label information, aiming to adjust the confidence weight of error instances adaptively. Furthermore, we design a local refinement module to refine the coarse mask output. The extensive experiments on the clinical IA- DSA and LiTS datasets show that our method outperforms recent state-of-the-art methods. This paper also provides the visual analysis to explain the inherent behavior of our method.
© 2023 IEEE.
关键词
学校署名
第一 ; 通讯
语种
英语
相关链接[IEEE记录]
收录类别
EI入藏号
20240715560680
来源库
EV Compendex
全文链接https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=10385276
引用统计
成果类型会议论文
条目标识符http://sustech.caswiz.com/handle/2SGJ60CL/706900
专题工学院_斯发基斯可信自主研究院
工学院_计算机科学与工程系
作者单位
1.Southern University of Science and Technology, Research Institute of Trustworthy Autonomous Systems, Department of Computer Science and Engineering, Shenzhen, China
2.Shenzhen People's Hospital, Shenzhen, China
第一作者单位斯发基斯可信自主系统研究院;  计算机科学与工程系
通讯作者单位斯发基斯可信自主系统研究院;  计算机科学与工程系
第一作者的第一单位斯发基斯可信自主系统研究院;  计算机科学与工程系
推荐引用方式
GB/T 7714
Mo, Yancheng,Chen, Yanlin,Hu, Yan,et al. Focusing Intracranial Aneurysm Lesion Segmentation by Graph Mask2Former with Local Refinement in DSA Images[C]//NSF:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,2023:899-903.
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