登录
×
邮箱/用户名
密码
验证码:
换一张
登录
×
统一认证登录
测试库
学校
|
图书馆
统一认证登录
|
登录
|
English
|
RSS Feeds
|
Atom Feeds
首页
学术成果
院系机构
南科学者
SUSTech-KC
数据分析
学位论文
南科刊物
帮助
中文版
|
English
登录
注册
首页
学术成果
院系机构
南科学者
数据分析
学位论文
南科刊物
帮助
ALL
ORCID
题名
作者
发表年份
关键词
成果类型
DOI
期刊来源
收录类别
出版者
ESI学科分类
其他关键词
国内统一刊号
图片搜索
粘贴图片网址
搜索
院系部门
管理部门
成果类型
会议论文
[1]
期刊论文
[1]
收录类别
SCI
[1]
CPCI-S
[1]
EI
[1]
ESCI
[1]
学校署名
第一
[2]
重要成果
作者
化梦媛
[2]
ESI学科分类
期刊来源
2019 IEEE 13TH I...
[1]
ACS APPLIED ELEC...
[1]
语种
英语
[2]
全文
有全文
[2]
来源库
Web of Science
[2]
开放获取
非开放获取
[2]
研究生成果
资助机构
资助项目
Ministry of Science and Technology of the Peo...
[1]
Shenzhen Science and Technology Innovation Co...
[1]
专利状态
发表年份
2019
[2]
培养类别
知识图谱
×
已选条件：
全部清除
筛选
浏览/检索结果:
共2条，第1-2条
在结果中检索：
搜索
高级搜索
跳转到
页
确定
共 1 页
已选(
0
)
每页显示：
10
20
50
100
排序：
请选择
提交时间升序
提交时间降序
题名升序
题名降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
发表日期升序
发表日期降序
作者升序
作者降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
[1]
Enhanced Gate Reliability in GaN MIS-FETs by Converting the GaN Channel into Crystalline Gallium Oxynitride
来源：
ACS Applied Electronic Materials, 2019, 卷号: 1, 期号: 5, 页码: 642-648
作者：
Mengyuan Hua
;
Xiangbin Cai
;
Song Yang
;
Zhaofu Zhang
;
Zheyang Zheng
;
et al.
Adobe
|
浏览/下载:
20/0
被引[WOS]:
13
被引[Scopus]:
16
影响因子:
4.3
期刊论文
SCI
ESCI
评论
分享
收藏
[2]
Reverse-Bias Stability and Reliability of Enhancement-mode GaN-based MIS-FET
来源：
2019 IEEE 13TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON ASIC (ASICON), Chongqing, China, China, 29 Oct.-1 Nov. 2019
作者：
Mengyuan Hua
;
Song Yang
;
Jin Wei
;
Zheyang Zheng
;
Kevin J. Chen
Adobe
|
浏览/下载:
11/0
被引[WOS]:
1
被引[Scopus]:
1
影响因子:
0.0
会议论文
CPCI-S
EI
评论
分享
收藏
跳转到
页
确定
共 1 页
